イノベーション・ジャパン2017 ~大学見本市&ビジネスマッチング~
Innovation Japan 2017
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装置・デバイス

大阪大学 大学院理学研究科 宇宙地球科学専攻

桂誠 助教

小間M-51
プレ0901-東1-A-19

カメラ校正によるサブピクセル画像計測の汎用化

Osaka University

Assistant Professor Makoto Katsura

A camera calibration method for high versatility of sub-pixel image measurements.

4 質の高い教育を みんなに
出展ゾーン
大学等シーズ展示
出展分野
装置・デバイス
小間番号
M-51
JSTショートプレゼン
0901-東1-A-19
9月1日(金)
JSTショートプレゼン東1-A
12:15

展示概要

技術概要
 ピクセル分解能を超えた画像計測を行う際には、カメラのレンズ、撮像素子に起因する歪を徹底的に除去しておく必要がある。しかし、そのような方法は現状存在しない。本技術は非線形歪を検出する技術である比位相変換法をカメラの校正に応用し、画像計測の誤差を移動の検出限界にまで到達させる。例えば、ピクセル間隔の1/100程度まで計測誤差を低減する。
 この校正をステレオカメラ、航空写真などの3D計測に適用する事によって、高精度化が実現する。その結果、安価で高速な形状測定、変位測定が可能となり、新しい市場を生み出す。

想定される活用例
・出荷前の製造物全数検査において形状を管理し、微小変形から故障解析する。
・橋梁などの大型構造物の振動をモニターし、劣化を早期検出する。
・画像計測・三次元計測を貧困地域での科学技術教育の基礎とする。

 

展示のみどころ
カメラによる画像計測の位置分解能はピクセル間隔の限界を超えられる。これをサブピクセル計測と呼ぶ。ピクセル間隔の100分の1の位置分解が可能にも関わらず、レンズなどによるカメラ歪の為に応用範囲は材料の微小変形の測定などに限られている。本展示では、サブピクセル計測の為のカメラ校正方法を初めて紹介する。補正された複数のカメラ画像や動画からサブピクセル画像の推定、正確な3Dスキャナーの実現などが期待できる。

特許情報

特許情報1 発明の名称
計測装置および計測方法
特許情報1 出願人
国立大学法人大阪大学
特許情報1 発明者
桂 誠
特許情報1 出願日
2014/7/8
特許情報1 出願番号
特願2014-140698(PCT/JP2015/069026)

お問い合わせ先

大阪大学大学院理学研究科

FAX:06-6850-5480  

URL:http://life.ess.sci.osaka-u.ac.jp/katsura/

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