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Innovation Japan 2017
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ナノテクノロジー

金沢大学 理工研究域 電子情報学系

髙橋 康史 准教授

小間N-19
プレ0831-東1-B-13

ナノスケールで生細胞形状を捉えるイオンコンダクタンス顕微鏡

Kanazawa University

Associate Professor Yasufumi TAKAHASHI

Nanoscale topography imaging by using scanning ion conductance microscopy

9 産業と技術革新の 基盤をつくろう
出展ゾーン
大学等シーズ展示
出展分野
ナノテクノロジー
小間番号
N-19
JSTショートプレゼン
0831-東1-B-13
8月31日(木)
JSTショートプレゼン東1-B
11:40

共同研究者

東北大学 環境科学研究科
教授 末永智一

展示概要

技術概要
走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は、1989年にHansmaらにより開発され、1990年代からKorchevらが、生細胞の形状測定を行っている。SICMは、ナノピペットをプローブとして用い、イオン電流をフィードバックシグナルに利用した非接触かつナノスケールでの形状測定である。これまでの水平方向の分解能は、3-6 nmほどの報告がある。さらにホッピングモードの開発により、アスペクト比の高い神経細胞などの全体をイメージング可能となった。また、パッチクランプ、共焦点顕微鏡とのハイブリットシステムや、が開発されている。

想定される活用例
・ダイナミックな細胞表面の動きの観察
・局所的なパッチクランプ
・化学物質の局所投与

 

展示のみどころ
生きた細胞の表面の動きをダイナミックにとらえることができ、試薬の投与前後での動きの違いを見ることや、形状イメージを利用して、局所的なセンシングを行うことも可能である。

特許情報

特許情報1 発明の名称
走査型プローブ顕微鏡及びその制御方法
特許情報1 出願人
国立大学法人金沢大学
特許情報1 発明者
髙橋 康史
特許情報1 出願日
2016/9/27
特許情報1 出願番号
特願2016-188803
特許情報2 発明の名称
走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法
特許情報2 出願人
東北大学
特許情報2 発明者
髙橋 康史、末永 智一、珠玖 仁、村上 有美、長峯 邦明、アンドリュー・シェヴチャク、ユーリ・エブゲニーエビッチ・コルチェフ
特許情報2 出願日
2010/6/11
特許情報2 出願番号
特願2009-140602
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