イノベーション・ジャパン2017 ~大学見本市&ビジネスマッチング~
Innovation Japan 2017
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装置・デバイス

埼玉大学 大学院理工学研究科 数理電子情報専攻

塩田 達俊 准教授

小間M-10
プレ0831-東1-B-44

高速・非接触・大面積・高精度な物体形状の光センシング機器

Saitama University

Associate professor Tatsutoshi Shioda

High-speed surface inspection technique providing wide-range and high-resolution specifications. An optical interferometry and imaging sensors are combined for realizing the novel profilometry and tomography.

12 つくる責任 つかう責任
出展ゾーン
大学等シーズ展示
出展分野
装置・デバイス
小間番号
M-10
JSTショートプレゼン
0831-東1-B-44
8月31日(木)
JSTショートプレゼン東1-B
14:45

展示概要

技術概要
製造業の生産ラインでは、品質と信頼性を維持するために全ての個体で表面や塗装面の欠陥検出が必須である。しかし、既存の計測器では検査スピードが遅く広範囲の高分解サンプリング計測が不可能なために実用化しない現実がある。そこで本研究室で開発した光周波数コムシングルショット断層イメージング技術による実現を提案する。
 深さ断面の表面形状や内部構造をCCDでリアルタイムに撮像する技術や、層構造から、層毎のスペクトルを分離解析できる光計測システムを考案した。本システムで用いる光学干渉計の出力波形は、位置・構造・スペクトル・分散など極めて多くの情報を含んでいる。本研究室では、これらの情報を如何に分離することができるか、そして産業技術へステージアップすることができるかを検討しており、ひとつの実験的な検討結果を紹介する。

想定される活用例
・インライン製品表面計測
・全数検査
・キズ検査
・医療用検査

 

展示のみどころ
シングルショットで奥行断層画像が映し出されるイメージング画像をリアルタイムで写し出し、臨場感がある実時間計測が可能であることをアピールする。

特許情報

特許情報1 発明の名称
干渉計
特許情報1 出願人
埼玉大学
特許情報1 発明者
塩田達俊
特許情報1 出願日
2010/3/30
特許情報1 出願番号
PCT/JP2010/55771
特許情報2 発明の名称
形状測定装置
特許情報2 出願人
埼玉大学
特許情報2 発明者
塩田達俊
特許情報2 出願日
2010/9/3
特許情報2 出願番号
PCT/JP2011/0696546
特許情報3 発明の名称
距離測定装置および距離測定方法
特許情報3 出願人
埼玉大学
特許情報3 発明者
塩田達俊
特許情報3 出願日
2014/3/2
特許情報3 出願番号
特願2014-040005

お問い合わせ先

埼玉大学

電話:048-858-3479   FAX:048-858-3479  

URL:http://optel.ees.saitama-u.ac.jp/members.html

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